電子產(chǎn)品的EMC電磁兼容性能設(shè)計(jì)體現(xiàn)在哪些方面

電氣火災(zāi)監(jiān)控探測(cè)器內(nèi)部一般具有模擬信號(hào)電路和高精度的A/D轉(zhuǎn)換電路，且各類產(chǎn)品內(nèi)部都具有獨(dú)立的時(shí)鐘和微處理器芯片。因此在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初就需要考慮以下幾個(gè)方面以提高產(chǎn)品在電磁干擾環(huán)境下的可靠性：

1、在產(chǎn)品的電源、I/O口和接地端之間連接快速、低容量的二極管，或直接并聯(lián)更為高效的瞬態(tài)抑制二極管，同時(shí)再增加高頻旁路電容器，放置在易損元件的電源和地之間以提高靜電防護(hù)性能；

2、使用壓敏電阻、TVS管、氣體放電管等專門的浪涌抑制器件，或者多種器件配合使用以實(shí)現(xiàn)浪涌抑制；

3、對(duì)PCB的各功能部分合理分區(qū)、合理布線。模擬信號(hào)、數(shù)字信號(hào)和繼電器、大電流開(kāi)關(guān)等部件之間要分開(kāi)，元器件之間的引線要盡量短，信號(hào)線路不形成環(huán)路，減少電磁干擾信號(hào)的耦合；
4、在滿足設(shè)計(jì)要求的前提下，盡量降低時(shí)鐘頻率、減少高頻噪聲，且時(shí)鐘線盡可能短，對(duì)干擾信號(hào)特別敏感的電路考慮加裝金屬屏蔽罩等防護(hù)措施；

5、設(shè)計(jì)合理的內(nèi)部處理器程序，在采樣計(jì)算指令中加入軟件濾波算法來(lái)降低誤報(bào)警觸發(fā)幾率；

6、對(duì)于產(chǎn)品的顯示器件，如LCD顯示器和指示燈，程序中加入定時(shí)刷新指令，防止產(chǎn)品在受到干擾時(shí)發(fā)生顯示錯(cuò)誤；

7、在主程序中加入看門狗指令，定時(shí)復(fù)位單片機(jī)防止發(fā)生內(nèi)部故障或系統(tǒng)假死，減少試驗(yàn)期間發(fā)生系統(tǒng)組件故障的可能。

4.壓降測(cè)試

顧名思義，電壓降測(cè)試用于測(cè)試突然的電壓驟降或其他電源中斷對(duì)設(shè)備的影響。這將復(fù)制掉電的影響以及設(shè)備可能會(huì)遇到的交流電源網(wǎng)絡(luò)中的正常波動(dòng)。在電壓降測(cè)試中，抽頭自耦變壓器和 抗擾度測(cè)試系統(tǒng) 將運(yùn)行一系列模擬，這些模擬具有變化的長(zhǎng)度和嚴(yán)重程度的跌落和跌落。電壓降測(cè)試還用于測(cè)試設(shè)備在完全斷電后成功重啟的能力。

5.EFT測(cè)試

EFT（電快速瞬變）測(cè)試可復(fù)制由電網(wǎng)上的感性負(fù)載切換引起的干擾。突發(fā)發(fā)生器用于模擬電氣開(kāi)關(guān)，電動(dòng)機(jī)和繼電器，熒光燈鎮(zhèn)流器以及其他常見(jiàn)瞬變?cè)驅(qū)Ρ粶y(cè)設(shè)備的影響。不正確的接地或共模轉(zhuǎn)換可能導(dǎo)致故障，內(nèi)部損壞，輔助設(shè)備問(wèn)題，通信問(wèn)題等等。EFT測(cè)試通常在交流或直流電源端口以及信號(hào)/控制端口上執(zhí)行，信號(hào)/控制端口可以連接到長(zhǎng)度超過(guò)3m的電纜。

6.ESD測(cè)試

靜電放電（ESD）是指電擊由于積聚的靜電而產(chǎn)生的靜電放電（地毯電擊）。這些短暫的能量爆發(fā)會(huì)導(dǎo)致許多問(wèn)題，例如IC端口損壞，通信故障，LCD屏幕損壞等等。ESD測(cè)試是通過(guò)EMC測(cè)試設(shè)備執(zhí)行的，該設(shè)備會(huì)產(chǎn)生短暫的能量爆發(fā)，通常在4kV和8kV時(shí)。測(cè)試設(shè)備配備有可模擬電荷的直接接觸和空中傳輸?shù)募记伞３Ｒ?jiàn)的設(shè)備為靜電放電發(fā)生器。

7.輻射抗擾度測(cè)試

輻射抗擾度測(cè)試可評(píng)估設(shè)備在暴露于不同電場(chǎng)源的情況下正常運(yùn)行的能力。電磁噪聲可能來(lái)自多種來(lái)源，從手機(jī)，微波爐到Wi-Fi路由器。

本文出自東莞市澳騰斯儀器有限公司，轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處！更多澳騰斯地板類檢測(cè)設(shè)備相關(guān)資訊請(qǐng)?jiān)L問(wèn)：www.jyknfs.com

24小時(shí)熱線電話：13712277050