X射線熒光鍍層測厚儀的使用主要事項有哪些？

X射線熒光鍍層測厚儀的使用注意事項

1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

2、在測量的時候要注意，側頭與試樣表面保持垂直。

3、在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

4、在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

5、測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

6、測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

7、在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。

8、在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。

X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能優越,而且價格優惠。分析鍍層厚度和元素成份同時進行，只需數秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的首要選擇。

Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點：

ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術，該技術已經被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。

產品功能：

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

2. 鍍層層數：多至5層。

3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。

4. 測量時間：通常35秒-180秒。

5. 樣品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。

6. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。

8. 同時定量測量8個元素。

9. 定性鑒定材料達20個元素。

產品參數：

· X射線光管  微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據軟件控制優化

· 探測器  高分辨氣體正比計數探測器

· 準直器  單一固定準直器直徑0.3mm

· 樣品倉  330 x 200 x 170 mm

· 樣品臺  手動Z軸樣品臺

· 電源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 儀器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

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