X熒光鍍層測厚儀的基本工作原理

X熒光鍍層測厚儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，X熒光鍍層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。

工業X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現場測量等優點，已在冶金、建材、地質、環保、商檢、考古、醫學等領域得到迅速推廣和應用。近幾年來X射線熒光儀已在工業鍍層及涂層厚度測量中應用越來越廣泛。*，產品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產品質量與性能相關的重要指標。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法，能夠滿足工業鍍層和涂層厚度的分析要求，并且具有無損、在線、簡便快速、可實現自動控制等特點。

X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理

X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，這時原子被激發了，處于激發態。此時，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷，同時以發出X射線的形式放出能量。

X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能優越,而且價格優惠。分析鍍層厚度和元素成份同時進行，只需數秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的首要選擇。

Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點：

ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術，該技術已經被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。

產品功能：

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

2. 鍍層層數：多至5層。

3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。

4. 測量時間：通常35秒-180秒。

5. 樣品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。

6. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。

8. 同時定量測量8個元素。

9. 定性鑒定材料達20個元素。

產品參數：

· X射線光管  微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據軟件控制優化

· 探測器  高分辨氣體正比計數探測器

· 準直器  單一固定準直器直徑0.3mm

· 樣品倉  330 x 200 x 170 mm

· 樣品臺  手動Z軸樣品臺

· 電源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 儀器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

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